日本電子電鏡JSM-IT500是JEOL InTouchScope系列的新機型。
從選定興趣視野到生成報告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無縫操作，使用方便的掃描電子顯微鏡。

日本電子電鏡JSM-IT500功能特點：

3個關(guān)鍵點　使日常分析更迅速！更簡便！

關(guān)鍵點2　實時分析 (僅限于A/LA)
在圖像觀察過程中，進行EDS分析。
EDS譜圖顯示在觀察窗口中， 如果給感興趣的元素加上alert ，會更容易發(fā)現(xiàn)。

關(guān)鍵點3　數(shù)據(jù)集中管理軟件
數(shù)據(jù)的查看、再分析以及從SEM圖像到EDS分析的全部數(shù)據(jù)報告可以一鍵生成。用數(shù)據(jù)管理圖標(biāo)或者從測試結(jié)束的數(shù)據(jù)列表中啟動數(shù)據(jù)管理窗口并選擇數(shù)據(jù)，一鍵就能生成報告。

關(guān)鍵點1　Zeromag

從樣品座圖形和CCD圖像上可以尋找視野和分析位置。尋找視野非常輕松， 多視野連續(xù)分析的位置也很容易。

光學(xué)CCD圖像和SEM圖像的wan美結(jié)合和無縫操作使工作效率大大提高！

利用Zeromag能簡便自動地進行大區(qū)域SEM觀察和EDS分析

利用Zeromag設(shè)置蒙太奇

蒙太奇結(jié)果 4×4 （左：背散射電子成份像 右：Ca元素面分布圖）
樣品：混凝土 加速電壓：15kV 高真空模式 拍攝區(qū)域：約4mm×3mm

利用Zeromag很容易設(shè)定大面積的蒙太奇區(qū)域，有利于成像和觀察。蒙太奇功能在斷裂分析和大區(qū)域中識別異物等從大面積區(qū)域上獲取詳細(xì)信息時非常有效。

關(guān)鍵點2　實時分析    SEM和EDS一體化集成     

在SEM圖像觀察過程中，進行EDS分析                      

利用Live Analysis功能，可在觀察窗口中進行被觀察區(qū)域的EDS分析。可以很容易地找到自己感興趣的元素，還能發(fā)現(xiàn)意料之外的元素。

①顯示存在于測試區(qū)域中的主元素。能元素并顯示“Alert”。

②會顯示分析區(qū)域的特征X射線譜圖和自動定性分析結(jié)果。

③一鍵點擊就可以在電鏡操作界面和詳細(xì)分析顯示界面間切換。

關(guān)鍵點3　數(shù)據(jù)集中管理軟件SMILE VIEW™ Lab     無縫創(chuàng)建報告                  

SMILE VIEW™ Lab是能集中管理與樣品臺位置聯(lián)動的CCD圖像、SEM圖像、EDS分析結(jié)果等數(shù)據(jù)并快速生成報告的數(shù)據(jù)管理器。查看以前獲得的數(shù)據(jù)、重新分析，生成報告等都非常簡便。

①顯示各個視野的名稱。

②能根據(jù)樣品名、創(chuàng)建日期和數(shù)據(jù)類型等搜索數(shù)據(jù)。

③在樣品座圖形或CCD圖像上顯示各個視野的位置。

④會列表顯示被選區(qū)域的元素圖、譜圖等的數(shù)據(jù)和定量分析結(jié)果等。

技術(shù)參數(shù)

備注：Windows10 為美國微軟公司在美國及其它國家的注冊商標(biāo)或商標(biāo)

主要選配件

背散射電子檢測器（BED) ※1

低真空二次電子檢測器（LSED)能譜儀(EDS)※2

波譜儀（WDS）

電子背散射衍射檢測器(EBSD)

加載互鎖真空室（預(yù)抽室）

樣品臺導(dǎo)航系統(tǒng)（SNS）

樣品室觀察系統(tǒng)(CS)

操作面板

3D測量軟件操作臺

※1 為JSM-IT500LV/LA的標(biāo)配功能。
※2 為JSM-IT500LV/LA的標(biāo)配功能。